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　　半導(dǎo)體產(chǎn)品，又被稱為集成電路或者IC。在半導(dǎo)體測試中常用DUT來表示需要檢測的IC單元。半導(dǎo)體檢測的主要目的，是利用測試設(shè)備執(zhí)行設(shè)定好的測試工作，然后對得到的各項參數(shù)值進(jìn)行判斷是否符合設(shè)計時的規(guī)范，而這些參數(shù)值會記錄在規(guī)格表中。
　　一般測試系統(tǒng)會根據(jù)測試項目不同提供不同的測量參數(shù)。例如直流測試、功能測試、交流測試等。直流測試，是驗證IC的電壓與電流值；功能測試，是驗證其邏輯功能是否正確；交流測試則是驗證其是否在正確的時間點上進(jìn)行設(shè)定的功能。
　　在半導(dǎo)體檢測過程中通常需要測試程序來控制測試系統(tǒng)的硬件，并對每次的測試結(jié)果，作出判斷Pass或Fail。如果測試結(jié)果符合設(shè)計的要求則Pass，相反地，不符合設(shè)計時則為Fail。所以在搭建您的測試系統(tǒng)時要明確您的產(chǎn)品需要進(jìn)行哪種測試。